透過型/反射型ともに近赤外線に対応したテストチャート

近赤外線用テストチャート

近赤外線(NIR/ SWIR)に対応したテストチャートです。監視カメラやスマートフォン、ToFセンサー、CMOSセンサー等における、画像認識の解像力や階調評価ツールとして御使用いただけます。

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特長

■近赤外線(850/860/905/910/940/950/960/1060nm)に対応。
 ※1100nm以上については応相談。
■透過型/反射型ともに近赤外線に対応した各種テストチャートの作製が可能。
■可視~近赤外にて安定したスペクトルの透過率、反射率を確保。

用途例

■LiDAR、監視カメラ、暗視カメラ、ドライブレコーダー
■スマートフォン、顔認証、モーションキャプチャー
■ToFセンサー、CMOSセンサー

製品ラインアップ

近赤外用解像度チャート
・HD/4K/8K に対応可能
・解像度チャート
・インメガサイクルチャート
・サーキュラーゾーンチャート
※カラーチャートの埋め込みも可能

近赤外用階調チャート
・ITE標準11階調チャート(透過型、反射型に対応可能)
・標準サイズ:290x320㎜
※カスタムにてサイズ対応可能

濃度板
・濃度5%、20%、40%、80% 、90%
※濃度、大きさ、基板はカスタム対応可能

赤外用評価用光源について
透過型/反射型ともに、赤外線に対応した評価用光源も提供可能ですので、お気軽にお問合わせ下さい。

技術詳細

分光透過率
透過タイプ階調チャートにおける、可視光から近赤外領域(NIR)の分光透過率測定結果です。
(製品例:ITE標準11階調チャート)
いずれの波長においても、安定した透過率を保持しております。

分光反射率
反射タイプチャートにおける、可視光から近赤外領域(NIR)の分光反射率測定結果です。
(製品例:濃度板5%、20%、80%、90%)
いずれの波長においても、安定した透過率を保持しております。

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